【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part8:Sealing
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第8部分:密封
【标准号】:IEC60749-8-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;尺寸;环境;热学;试验;温度变化;气候试验;潮气;电气工程;耐力;组件;易燃性;环境试验;环境试验;大气压;集成电路;电学测量;半导体器件;电子设备及元件;电子工程;密封性;定义;定义;外观检查(试验);半导体;温度;气候
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Resistance;Seals;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits)Theobjectofthistestmethodistodeterminetheleakrateofsemiconductordevices.NOTEThistestisidenticaltothetestmethodcontainedinclause5ofchapter3ofIEC60749(1996),amendment2,apartfromtheadditionofthisclauseandclause2andthesubsequentrenumbering.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:31P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Blankdetailspecification-Loadscrewactuatedandrotarypresetpotentiometers-AssessmentlevelE
【原文标准名称】:电子元器件质量评估协调体系.空白详细规范.丝杆传动和旋转式预调电位器.评估等级E
【标准号】:BSQC410101-1990
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1990-09-15
【实施或试行日期】:1990-09-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:性能;可变电阻器;质量管理;评估的质量;电阻器;详细规范;统计质量控制;资格鉴定;检验;电子设备及元件;试验条件;认可试验;质量保证体系;电位器
【英文主题词】:Adjustments;Blankforms;Components;Detailspecification;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electronicengineering;Inspection;Lead-screwactuated;Marking;Potentiometers(resistors);Quality;Qualityassessment;Ratings;Resistors;Rotationalmotion;Specification(approval);Spindles;Testing;Trimmingpotentiometers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L14;L00
【国际标准分类号】:31_040_20
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语