作者:标准资料网 时间:2024-05-10 07:05:15   浏览:9981   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-X-rayphotoelectronspectroscopy-Proceduresfordeterminingbackgrounds
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
【标准号】:ISO/TR18392-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC201
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:化学分析和试验;化学成分;电子光谱;电子光谱学;精整;光电子;光谱学;表面性质;X射线;X射线分析;X射线光度法
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Chemicalcomposition;Electronspectra;Electronspectroscopy;Finishes;Photoelectronic;Spectroscopy;Surfaceproperties;X-ray;X-rayanalysis;X-rayspectrometry;X-rays
【摘要】:ThisTechnicalReportgivesguidancefordeterminingbackgroundsinX-rayphotoelectronspectra.ThemethodsofbackgrounddeterminationdescribedinthisreportareapplicableforevaluationofspectraofphotoelectronsandAugerelectronsexcitedbyX-raysfromsolidsurfaces.
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:英语